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JEOL JEM-ARM200F NEOARM 透射電子顯微鏡標配了冷場發射電子槍和全新的高階球差校正器。無論是在200kV的高加速電壓還是在30kV的低加速電壓下，均能實現原子級分辨率的觀察與分析。同時還配備了自動像差校正系統，采用像差校正算法，可以自動進行快速準確的像差校正。由此實現了高通量的原子級分辨率成像。此外，新型STEM檢測器不依賴于加速電壓就可以獲得高襯度的輕元素圖像。因此，利用能增強輕元素襯度的新STEM成像技術可以更加簡便地觀察到含有輕元素樣品的高清晰(襯度)圖像。
JEOL JEM-ARM200F NEOARM 透射電子顯微鏡配備的新型球差校正器ASCOR能夠校正高階像差(即6重像散，目前阻礙透射電鏡分辨率進一步提高的大障礙。)，ASCOR和Cold-FEG的*組合實現了從高加速電壓到低加速電壓下的高分辨率。JEOL COSMO™采用了全新像差校正算法，校正像差不需要交換標準樣品也可以快速精確地校正至高階像差。與采用傳統校正算法的系統相比，JEOL CMSMO™能夠高速處理數據，并且使操作進一步自動化。因此，客戶在工作流程中可以簡便高效地進行高分辨率觀察及各種元素分析。
